전자기 호환성 문제에 가장 기본적이고 일반적으로 사용되는 용어
1. 전자기 환경 : 주어진 장소에 존재하는 모든 전자기 현상의 합;
2. 전자기 방출 : 전자기 에너지가 소스에서 방출되는 현상;
3. 전자기 괴롭힘: 장치, 장비 또는 시스템의 성능 저하를 유발하거나 애니메이션 또는 무생물 물질을 손상시킬 수 있는 전자기 현상;
4. 전자기 간섭 : 전자기 간섭으로 인한 장비, 전송 채널 또는 시스템의 성능 저하;
5. 성능 저하 : 정상적인 성능에서 장치, 장비 또는 시스템의 작업 성능의 원치 않는 편차;
6. 전자기 소음 : 분명히 정보를 전송하지 않는 시간 변화 전자기 현상. 그것은 중첩 및 유용한 신호와 결합 될 수있다;
7. 쓸모없는 신호 : 유용한 신호의 수신을 손상시킬 수있는 신호;
8. 간섭 신호 : 유용한 신호에 의해 수신 된 신호를 손상;
9. 괴롭힘에 대한 면제: 장치, 장비 또는 시스템이 작동 성능을 저하하지 않고 전자기 괴롭힘에 직면 할 수있는 능력;
10. 전자기 감수성 : 전자기 장애가있는 경우 성능 저하를 피하지 않는 장치, 장비 또는 시스템의 능력;
11. 시간 변수 수준: 지정된 방식으로 지정된 시간 간격으로 얻은 전력 또는 필드 매개 변수와 같은 시간 변수의 평균 값 또는 가중 값;
12. 교란 제한: 지정된 측정 방법에 대응하는 최대 허용 수준의 전자기 장애;
13. 간섭 제한: 전자기 교란은 장치, 장비 또는 시스템의 최대 허용 성능을 감소시킵니다.
14. 전자기 호환성 : 전자기 환경에서 정상적으로 작동하는 장치 또는 시스템의 능력과 환경에서 아무것도 견딜 수없는 전자기 장애를 구성하지 않습니다;
15. 전자기 호환성 수준 : 지정된 조건에서 작동하는 장치, 장비 또는 시스템에 부과 될 것으로 예상되는 최대 전자기 소요 수준;
16. 교란원의 방출 수준: 규정된 방법에 의해 측정된 특정 장치, 장비 또는 시스템에 의해 방출되는 주어진 전자기 교란의 수준;
17. 교란 소스에서 배출 제한 : 전자기 교란 소스의 최대 방출 수준을 지정;
18. 면역 수준 : 주어진 전자기 장애가 특정 장치, 장비 또는 시스템에 적용되고 여전히 정상적으로 작동하고 필요한 성능 수준을 유지할 수있는 최대 교란 수준;
19. 면제 제한: 지정된 최소 면역 수준;
20. 면역 마진: 장치, 장비 또는 시스템의 면역 한계와 전자기 호환성 수준 간의 차이;
21. 전자기 호환성 마진: 장치, 장비 또는 시스템의 면역 한계와 교란 원의 배출 한계 사이의 차이;
22. 괴롭힘 억제: 전자기 괴롭힘을 약화하거나 제거하기 위한 조치;
23. 간섭 억제: 전자기 간섭을 약화하거나 제거하기 위한 조치;
24. 배출 마진: 장치, 장비 또는 시스템의 전자기 호환성 수준 과 배출 한계 사이의 차이;
25. 전자기 방사선 : 에너지가 전자파의 형태로 소스에서 공간으로 방출되고 에너지가 전자파의 형태로 우주로 전송되는 현상;
26. 무선 주파수 소음 : 무선 주파수 구성 요소의 전자기 소음;
27. 무선 주파수 장애 : 무선 주파수 구성 요소의 전자기 장애;
28. 과도 상태 : 두 개의 인접한 안정된 상태 사이에 변화하는 물리적 수량 또는 물리적 현상, 그 변화의 시간은 우려의 시간 척도보다 적습니다;
29. 펄스: 단기간에 갑자기 변경된 다음 초기 값으로 빠르게 돌아오는 물리적 수량;
30. 임펄스 펄스: 주어진 목적을 위해, 단위 펄스 또는 디락 함수 펄스와 유사하다;
31. 스파이크 펄스: 짧은 지속 시간을 가진 단방향 펄스;
32. 펄스 상승 시간: 펄스의 즉각적인 값이 주어진 하한에서 주어진 상한으로 처음으로 상승하는 데 걸리는 시간;
33. 상승 속도: 지정된 값 범위 내에 있는 수량의 평균 속도, 즉 시간이 지남에 따라 피크 값의 10%에서 90%로;
34. 파열 펄스 또는 진동: 명확한 펄스의 제한된 수 또는 제한된 기간의 진동;
35. 펄스 괴롭힘: 특정 장치 또는 장비에 나타나는 전자기 괴롭힘은 일련의 명확한 펄스 또는 과도로 나타납니다.
36. 연속 노이즈: 특정 장치의 효과는 명확하게 구별 할 수있는 일련의 효과로 세분화 할 수 없습니다;
37. 연속 노이즈: 특정 장치의 효과는 명확하게 구별 할 수있는 효과의 문자열로 세분화 할 수 없습니다;
38. 지속적인 교란: 특정 장치의 효과는 전자기 교란의 명확하게 식별 가능한 펄스의 시리즈로 세분화 할 수 없습니다;
39. 전원 괴롭힘: 전원 공급 라인을 통해 장치에 전송된 전자기 괴롭힘;
40. 전원 공급 장치 면역 : 전원 공급 장치 장애에 대한 면역;
41. 전원 공급 장치 분리 계수: 장치의 지정된 입력 단말에 적용된 전원 공급 장치의 지정된 위치에 적용된 전압 의 비율 또는 전압 값및 장치에 동일한 교란 효과를 생성;
42. 쉘 방사선: 연결된 안테나 또는 케이블에 의해 생성된 방사선을 제외한 장비 쉘에 의해 생성된 방사선;
43. 내부 면역 : 기존의 입력 또는 안테나에 전자기 장애가있을 때 성능 저하없이 정상적으로 작동하는 장치, 장비 또는 시스템의 능력;
44. 결합 계수: 주어진 회로에서 전자기 양은 하나의 지정된 위치에서 다른 지정된 위치로 결합되고, 대상 위치와 소스 위치 사이의 해당 전자기 수량의 비율은 결합 계수이다.
45. 결합 경로: 전자기 에너지의 일부 또는 전부가 규제에서 다른 회로 또는 장치로 전송되는 경로;
46. 차폐: 지정된 영역에 대한 현장 침투를 줄이는 데 사용되는 조치;
47. 전자기 차폐: 전도성 재료를 사용하여 교대전자기장이 지정된 영역에 침투하는 차폐를 줄입니다.
48. 참조 임피던스 : 임피던스의 지정된 값으로 장비에 의해 생성 된 전자기 장애를 계산하거나 측정하는 데 사용됩니다.
